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                    8. 頻率計數器
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                    1. 探針及配件
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                    3. TEM耗材
                    4. SEM耗材
                    5. X-ray耗材
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                    +
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                    +
                  1. +
                  +
                AFM校準標樣
                品 牌 :復合
                型 號 :多種
                產 地 :瑞士
                關鍵詞 :AFM校準標樣



                 

                型號

                規格

                TGZ系列Z向校準標樣,TGZ1/TGZ2/TGZ3/TGZ4/TGS1,Z軸校準及非線性校準

                Si 基底,結構在SiO2

                周期:3±0.1 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:3x3 mm

                可選配:PTB可溯源證書

                TGZ1

                20.0±1.5 nmHeight

                TGZ2

                110±2 nmHeight

                TGZ3

                520±3 nmHeight

                TGZ4

                1517± 20nmHeight

                TGT1SPM針尖3-D校準標樣NT-MDT,針尖形狀,曲率半徑校準,尖端降解/污染檢測

                Si 基底

                周期:3±0.05 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:2x2mm

                TGT1

                尖端尺寸:角度:50+-10°,半徑:<=10nm,高度:0.3-0.5μm

                TGG1SPM X,Y方向校準標樣

                SPM X、Y方向校準,掃描器橫向垂直方向非線性檢測,角度畸變檢測,針尖表征

                Si 基底

                周期:3±0.05 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:3x3mm

                TGG1

                1-D 三角臺階標樣,精確的線性,角度

                邊緣角度70°,邊緣半徑:≤10nm

                TGX1SPM橫向校準,針尖高長徑比

                掃描器橫向檢測 橫向非線性、滯后、蠕變和交叉耦合效應的檢測 針尖長徑比標定

                Si 基底

                周期:3±0.05 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:3x3mm

                TGX1

                棋盤狀的方柱陣列,具有鋒利的咬邊

                高度:~0.6 μm,邊緣半徑:≤10nm

                TipCheck

                SPM針尖形狀校準標樣,Budgetsensors,針尖形狀,曲率半徑校準,尖端降解/污染檢測

                尺寸:5x5x0.3 mm,有效區域:中心:5x5mm

                TipCheck

                Tipcheck金字塔納米結構

                50-100nm高度,50-100nm底部寬度

                小邊緣:≤5nm

                SHS系列臺階標樣:SHS系列臺階標樣

                Si 基底,多種結構復合:圓、長條、方形

                基底尺寸:8.0x8.2x0.5 mm

                SHS-01

                結構材質:SiO2,高度:100nm

                SHS-1

                結構材質:SiO2,高度:1000nm

                STEP-OX-0.1

                結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:100nm

                STEP-OX-0.2

                結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:100nm

                STEP-OX-0.5

                結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:500nm

                STEP-OX-1

                結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:1000nm

                STEP-Si-5

                結構材質:Si,高度:5000nm

                STEP-Si-10

                結構材質:Si,高度:10000nm

                STEP-Si-25

                結構材質:Si,高度:25000nm

                PA01

                SPM針尖形狀校準標樣,針尖形狀,曲率半徑校準,尖端降解/污染檢測

                尺寸:5x5x0.3 mm,有效區域:中心:5x5mm

                PA01

                PA 01金字塔納米結構

                50-100nm高度,50-100nm底部寬度

                小邊緣:≤5nm

                TGF11 SPM掃描器垂直方向非線性檢測

                掃描器垂直方向非線性檢測,橫向力校準,帶小球硅針尖懸臂校準

                尺寸:5x5x0.3 mm,有效區域:中心:3x3mm

                TGF11

                TGF11梯形結構,54.74°

                高度:1.75μm,周期:10±0.1 μm

                HS-MG系列標樣,HS-20MG/HS-100MG/HS-500MG,Z軸校準及非線性校準及垂直橫向掃描器校準

                Si 基底,結構在SiO2層,不同結構陣列,周期:5&10μm,尺寸:5x5 mm

                圓柱/孔:500 μm x500 μm,線條: 500 μm x500 μm,方柱/孔:1 x1mm

                HS-20MG

                20 nmHeight

                HS-100MG

                100 nmHeight

                HS-500MG

                500 nmHeight

                CS-20NG系列標樣,Z軸校準及非線性校準及垂直橫向掃描器校準

                Si 基底,結構在SiO2層,不同結構陣列,尺寸:5x5 mm

                圓柱/孔:(500nm pitch100 μm x100 μm,線條:(5 μm pitch) 500 μm x500 μm,方柱/孔:(10μm pitch)1 x1mm

                CS-20MG

                20 nmHeight

                TGXSPM橫向校準,針尖高長徑比,掃描器橫向檢測,橫向非線性、滯后、蠕變和交叉耦合效應的檢測

                Si 基底,不同結構陣列,尺寸:5x5 x0.3 mm,邊緣半徑:5nm,周期3±0.1 μm

                TGX

                1μmHeight

                TGXYZ系列標樣:SPM Z軸校準及非線性校準及垂直橫向掃描器校準

                Si 基底,結構在SiO2層,不同結構陣列,尺寸:5x5x0.3 mm

                圓柱/孔:500 μm x500 μm,線條:500 μm x500 μm,方柱/孔:1 x1mm

                TGXYZ01

                20.0±2 nmHeight

                TGXYZ02

                100±3 nmHeight

                TGXYZ03

                500±3 nmHeight

                TDG01X、Y方向校準,掃描器橫向垂直方向非線性檢測,角度畸變檢測,針尖表征

                Si 基底,鍍Al,平行脊,尺寸:12.5mm直徑,厚度:2.5mm,有效區域:9mm直徑

                TGX

                >55nmHeight

                 

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